Поиск по сайту:

 


По базе:  

микроэлектроника, микросхема, микроконтроллер, память, msp430, MSP430, Atmel, Maxim, LCD, hd44780, t6963, sed1335, SED1335, mega128, avr, mega128  
  Главная>Обзоры по типам>Микроконтроллеры>ARM>Архитектура

реклама

 




Мероприятия:




AMBA методология тестирования

AMBA методология тестирования реализует механизм, который обеспечивает доступ внешнего тестера к встроенной шине AMBA, что позволяет тестеру получить возможность управления шиной и последовательно проверять каждый компонент. Такой модульный подход расширяет возможности методологии многократного использования схемотехнических решений, способствуя многократному использованию векторов тестирования. Метод параллельного доступа обеспечивает высокую скорость тестирования, в особенности кэшированных CPU, и является альтернативным методом к стратегии тестирования на основе технологии сканирования. Фирма ARM предоставляет лицензии на комплект разработки шины AMBA, называемый Micropack. В комплект входит HDL пример системы AMBA с набором HDL моделей, использованных в примере, соответствующий набор тестов и "надстройка" (wrapper), обеспечивающая организацию интерфейса ARM CPU с системной шиной AMBA.
<-- Предыдущая страница Оглавление Следующая страница -->
.




 
Впервые? | Реклама на сайте | О проекте | Карта портала
тел. редакции: +7 (995) 900 6254. e-mail:info@eust.ru
©1998-2023 Рынок Микроэлектроники