Поиск по сайту: |
|
По базе: |
|
Главная>Обзоры по типам>Микроконтроллеры>ARM>Архитектура |
|
||||||||||||
AMBA методология тестированияAMBA методология тестирования реализует механизм, который обеспечивает доступ внешнего тестера к встроенной шине AMBA, что позволяет тестеру получить возможность управления шиной и последовательно проверять каждый компонент. Такой модульный подход расширяет возможности методологии многократного использования схемотехнических решений, способствуя многократному использованию векторов тестирования. Метод параллельного доступа обеспечивает высокую скорость тестирования, в особенности кэшированных CPU, и является альтернативным методом к стратегии тестирования на основе технологии сканирования. Фирма ARM предоставляет лицензии на комплект разработки шины AMBA, называемый Micropack. В комплект входит HDL пример системы AMBA с набором HDL моделей, использованных в примере, соответствующий набор тестов и "надстройка" (wrapper), обеспечивающая организацию интерфейса ARM CPU с системной шиной AMBA.
Главная - Микросхемы - DOC - ЖКИ - Источники питания - Электромеханика - Интерфейсы - Программы - Применения - Статьи |
|
Впервые? | Реклама на сайте | О проекте | Карта портала тел. редакции: +7 (995) 900 6254. e-mail:info@eust.ru ©1998-2023 Рынок Микроэлектроники |
|